絕緣層性能試驗結果見表2.各項性能試驗過程如下:

絕緣層間電阻試驗.層間電阻是表征絕緣層性能的主要指標,是直接影響取向硅鋼片使用性能的因素，層間電阻定義為每片試樣單位面積所具有的電阻值(Q. cm2/片). 試樣用Frank第2法單片層何電阻測試裝置測定(GB2522-81).試樣選用400 mmX 150 mm規格的硅鋼片,測試壓力為2.058X 10的6次方Pa,測試電壓為0.5V,將測試結果代入(1)式計算出層間電阻.

      Rs= A(1/I-1)  (1)式中: Rs-層間電阻(9. cm'/片);A-- 10 個極頭總面積(cm2);I一6點測試電流平均值(A)